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高電場介電、損耗、漏電流測試係統
更新時間:
2024-12-30
型號:
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262
高電場介電、損耗、漏電流測試係統可實現從低頻到高頻信號的輸出與測量,係統由工控機發出指令,單片機控製FPGA發出測量波形,FPGA一路信號控製不同頻率幅值的信號由高壓放大器進行電壓放大後,施加在樣品上,另一路施加在鎖相放大器作為參考信號,不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上,樣品測量的信號測量後,再回傳FPGA測試板卡。測量的數據再由單片機回傳工控機進行數據處理。
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