MLCC高壓電容器高電場介電損耗電滯回線係統

MLCC高壓電容器高電場介電、損耗、電滯回線測試係統

MLCC高壓電容器高電場介電損耗電滯回線係統可實現從(cong) 低頻到高頻信號的輸出與(yu) 測量，係統由工控機發出指令，單片機控製FPGA發出測量波形，FPGA一路信號控製不同頻率幅值的信號由高壓放大器進行電壓放大後，施加在樣品上，另一路施加在鎖相放大器作為(wei) 參考信號，不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上，樣品測量的信號測量後，再回傳(chuan) FPGA測試板卡。測量的數據再由單片機回傳(chuan) 工控機進行數據處理。

它使用真正的 AC DFR（介電頻率響應），保持出色的準確性和提供可靠數據的能力，可在高幹擾環境中獲得可靠的測試結果。 該軟件使測試既簡單又快捷，它可在進行不同溫度，頻率下測量材料的介電常數及介質損耗因數。本套係統可以在任意電壓激勵下的介電響應測試根據需要自定義(yi) 輸出任意電壓波形激勵，滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方麵的測試需求，較好地適應用戶需求。

設計框圖

產(chan) 品優(you) 勢

MLCC高壓電容器高電場介電損耗電滯回線係統對被測信號進行調整的信號源，由鎖相放大器的信號輸出端提供，采用內(nei) 部參考模式，這種模式幅於(yu) 鎖相放大器對直接可以獲取的參考信號的幅度及相位，測量精度更高。數字鎖相放大器不會(hui) 由於(yu) 算法計算而引入或考增加噪聲，並且基本不受外界環境的幹擾。