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高低溫環境試驗設備

高低溫烘箱小型探針台高低溫冷熱台

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HCP650-PM華測半導體材料封裝高低溫冷熱台

更新時間：2024-12-12

型號：HCP650-PM

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華測半導體材料封裝高低溫冷熱台防止高溫氧化負溫結霜，高低溫冷熱台是一款溫度範圍-190C~600C的溫控探針台。使用時還可對樣品氣氛進行控製。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產生結霜影響實驗，又可以防止樣品發生氧化。
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HC9023絕緣材料電阻評價平台測試設備/自主研發

更新時間：2024-12-12

型號：HC9023

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絕緣材料電阻評價平台測試設備/自主研發運用平行板法設計原理測量。利用特殊的電阻測試係統，重複性與穩定性好，提升了夾具的抗幹擾能力，同時大大提高精確度,可應用於產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
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Huace-6 中端探針台

更新時間：2024-12-12

型號：

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Huace-6 中端探針台可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動；可升級做射頻，大電流方麵的測試和激光修複應用
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Huace-4S小型探針台

更新時間：2024-12-12

型號：

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Huace-4S小型探針台最大可用於6英寸以內樣品測試；可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
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Huace-4簡易探針台

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-4

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Huace-4係列簡易探針台可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；外形輕盈，操作方便，價格實惠；
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華測測試儀器 HCMP手動探針台

更新時間：2024-12-12

型號：

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華測測試儀器 HCMP手動探針台是一款專門用於材料電學表征和測量的微型桌麵型電學測量台，主要用於介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學表征和測量，還可以在真空、氣氛環境下對材料進行電學測量評估，是實驗室測量薄膜材料電學材料常用工具，廣泛用於高校、科研、航天航空、軍工院所等領域。
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半導體參數測試儀與MM探針台/係統集成

更新時間：2023-08-28

型號：

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半導體參數測試儀與MM探針台/係統集成支持二極管、三極管、MOS管等半導體器件以及材料的直流電流-電壓（I-V）測量，準靜態和中頻電容-電壓（C-V）測量，時域測量等。
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