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塞貝克係數電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試係統- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估係統儲能新材料電學綜合測試係統半導體封裝材料真空探針台空間電荷測試係統電容器溫度特性評估係統高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱台測試係統 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針台漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試係統

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HCMP華測多通道介電/電阻測試儀

更新時間：2024-12-12

型號：HCMP

瀏覽量：1375

華測多通道介電/電阻測試儀，主要用於：多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用；光耦繼電器，高速又耐用；切換時間 1 ms；高速I/O 輸出控製。
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HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

更新時間：2024-12-19

型號：HCDH-3

瀏覽量：1769

華測高壓漏電起痕測試儀，是指在固體絕緣材料表麵，在電場和電解液的聯合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個過程被稱為漏電起痕，而絕緣材料表麵抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或汙染介質聯合作用下的環境，測定材料的相比漏電起痕指數（CTI）和耐電痕化指數（PTI）。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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Huace-4華測簡易探針台

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-4

瀏覽量：1518

華測簡易探針台是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針台載物台（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。
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HCWP寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻

更新時間：2024-12-12

型號：HCWP

瀏覽量：1448

寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻，滿足材料在高溫環境下的介電測量需求而設計的。從專業角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量係統。主要用於絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試，係統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件於一體.
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HCZDJC-50-600050點耐壓測試儀

更新時間：2025-04-03

型號：HCZDJC-50-6000

瀏覽量：1481

50點耐壓測試儀主要用於電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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HCDH-4耐電弧試驗儀

更新時間：2024-12-31

型號：HCDH-4

瀏覽量：1412

耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發的高精密設備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質的能力，通常用標準電弧焰在材料表麵引起炭化至表麵導電而電弧消失所需時間表示，單位是秒。
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Huace-4華測半導體封裝材料真空探針台

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-4

瀏覽量：1309

華測半導體封裝材料真空探針台是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針台載物台（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。
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Huace FE-3000鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針台

更新時間：2025-01-14

型號：Huace FE-3000

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鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針台，Huace FE主機在不改變樣品連接的情況下可執行電滯回線、脈衝、漏電流、IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實現壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。
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