當前位置：首頁 > 產品中心 > 新品推薦 > 漏電起痕試驗儀 > HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

簡要描述：華測高壓漏電起痕測試儀(yi) ，是指在固體(ti) 絕緣材料表麵，在電場和電解液的聯合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個(ge) 過程被稱為(wei) 漏電起痕，而絕緣材料表麵抗漏電起痕的能力則稱為(wei) 耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或汙染介質聯合作用下的環境，測定材料的相比漏電起痕指數（CTI）和耐電痕化指數（PTI）。華測高壓漏電起痕測試儀(yi) CTI/PTI

產品型號：HCDH-3
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-12-19
訪問量：1755

產品谘詢聯係我們

產(chan) 品分類

Product Category

新品推薦

塞貝克係數電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試係統- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估係統儲能新材料電學綜合測試係統半導體封裝材料真空探針台空間電荷測試係統電容器溫度特性評估係統高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱台測試係統 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針台漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試係統

查看全部

相關(guan) 文章

詳細介紹

品牌	HUACE/米兰app下载并安装	應用領域	生物產業,石油,製藥/生物製藥,電氣,綜合

華測高壓漏電起痕測試儀(yi) CTI/PTI

漏電起痕是指在固體(ti) 絕緣材料表麵，在電場和電解液的聯合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個(ge) 過程被稱為(wei) 漏電起痕，而絕緣材料表麵抗漏電起痕的能力則稱為(wei) 耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或汙染介質聯合作用下的環境，測定材料的相比漏電起痕指數（CTI）和耐電痕化指數（PTI）。

華測高壓漏電起痕測試儀(yi) CTI/PTI是專(zhuan) 門設計用於(yu) 進行此類測試的儀(yi) 器，它按照GB4207、IEC60112等標準要求製造，適用於(yu) 對電工電子產(chan) 品、家用電器的固體(ti) 絕緣材料及其產(chan) 品進行測試。這種試驗裝置能夠在規定的條件下，模擬電器在潮濕和雜質環境中的情況，評估不同極性的帶電部件之間或帶電部件與(yu) 接地金屬部件之間可能引起的絕緣上的漏電現象。產(chan) 生的電弧可能會(hui) 對電器造成擊穿短路或材料蝕損，甚至引燃導致火災。因此，漏電起痕試驗是一種破壞性試驗，用以測試和評定絕緣體(ti) 在電場和含雜質水作用時的相對耐漏電起痕性。

漏電起痕試驗儀(yi) 的技術指標包括工作環境溫度（0~40°C）、相對濕度（≤80%）、無明顯振動及腐蝕性氣體(ti) 的場所等。工作電壓為(wei) AC220V±2% 50HZ±1%，試驗電壓可連續調節在100~600V範圍內(nei) 。這些指標確保了試驗的準確性和可靠性，同時也適應了不同環境和應用條件下的測試需求。