熱釋電係數的測試

      熱釋電係數可用靜態法、動態法和積分電荷法測試，其中積分電荷法得到廣泛應用。圖4.5-32為(wei) 積分電荷法測試原理圖(GB/T3389.8-1986)。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷，測定剩餘(yu) 極化隨溫度的變化。使用靜電計測得積分電容兩(liang) 端電壓，輸出至函數記錄儀(yi) Y端，由於(yu) 積分電容值遠大於(yu) 試樣電容值，其兩(liang) 端的電壓變化正比於(yu) 試樣剩餘(yu) 極化的變化。同時，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線，微分該曲線，就可得到熱釋電係數

　　測試設備的加熱油槽由銅製成，外殼接地以屏蔽外來信號的幹擾，內(nei) 盛絕緣油，絕緣油應該浸沒試樣架和測溫熱電偶，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度範圍為(wei) 室溫至85℃，溫差電動勢大者為(wei) 宜。積分電容視試樣電容大小及熱釋電係數大小而定，一般為(wei) 10μF。直流電阻不小於(yu) 10⁹Ω。靜電計輸入阻抗不小於(yu) 10¹⁰Ω。函數記錄儀(yi) 的相對誤差小於(yu) 或等於(yu) 1%。整個(ge) 係統放電時間常數不小於(yu) 4×10³s，相對於(yu) 采用10μF積分電容而言係統總電阻大於(yu) 5×10⁸Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小於(yu) 10⁹Ω，其尺寸為(wei) ：麵積1cm²，厚度t不小於(yu) 0.5mm。

　　測量時按圖4.5-32接好線路，將經清潔幹燥處理的試樣置於(yu) 樣品架上，浸沒於(yu) 絕緣油中，試樣與(yu) 熱電偶應盡可能接近。對油槽加溫，使之按一定速率升溫，並進行記錄。然後，從(cong) 所得Q-T曲線，求取所需溫度點的曲線斜率，即為(wei) 該溫度的熱釋電係數。

圖4.5-32積分電荷法熱釋電係數測試原理圖
 

　　1一冰點；2一測溫熱電偶；3一屏蔽溫度室；4一被測塗樣；5*緣保護層；6一積分電容；7一靜電計8一函數記錄儀(yi) ；9一加熱器；10*緣油
 

　　熱釋電係數的計算可采用下式
 

　　式中，pm為(wei) 熱釋電係數，C/(℃· m²)；C為(wei) 積分電容值，F；A為(wei) 試樣麵積，m²；△T為(wei) 溫度變化值，℃；△V為(wei) 對應於(yu) △T的積分電容兩(liang) 端電壓變化值，V。