MLCC電容器溫度特性測試係統

MLCC電容器溫度特性測試係統  

（電容器溫度特性評估係統）

電化學遷移評價(jia) 係統

電化學遷移評估係統可以輕鬆有效地評估產(chan) 品壽命和絕緣電阻，從(cong) 低壓測試到高壓測試都有許多應用。

l 評價(jia) 目標

l 印刷電路板

l 絕緣材料

l 半導體(ti) 材料

容器泄漏測試係統

電容器泄漏測試係統自動評估高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性。

l 評價(jia) 目標

l 電容器

Platinous J 係列恒溫試驗箱

作為(wei) 行業(ye) 標準試驗箱的一條線，Platinous係列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態友好的環境試驗箱的新環境標準。

型號

範圍 迷你零下Compact 超低溫室

Mini Subzero 支持覆蓋超低溫範圍的較寬溫度範圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫範圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠程監測和操作。

內(nei) 部容積 (L)

特征

該係統可用於(yu) 評估特定溫度環境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64個(ge) 通道的自動測量

該係統可以測量不同溫度環境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以選擇8個(ge) 通道的倍數，最多64個(ge) 通道。

☆ 圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。

☆ 可從(cong) 不同測試模式選擇

溫度特性評價(jia) 試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。

<溫度特性評估測試>

在此測試模式下，自動記錄特性數據，並與(yu) 溫度變化同步，最多40步。

<持續運行測試>

該測試模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據。

<頻率特性評價(jia) 試驗>

該試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。測試可與(yu) 溫度特性評價(jia) 測試或恒定運行測試相結合。

☆ 多種可選夾具 適用於(yu) 不同的試驗樣本（可選）

除了 SMD 組件的專(zhuan) 用夾具外，我們(men) 還提供了根據離散設備形狀定製的夾具。

應用程序

l 電容器

l 靜電容量 (C)

l 損失因子 (D)

l 阻抗的溫度特性 (Z)

l 頻率特征

l 電子材料

l 印刷電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹脂、薄膜等）

l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）

①係統控製器

用於(yu) 登記係統管理的計算機和監視器測試條件，檢查工作 狀態，並進行數據處理。

②不間斷電源

係統控製器的備用電源。

③ RS-232C

操作員控製並監測來自係統控製器的環境測試係統。

④ 掃描裝置

該裝置測量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測量電纜前沿的標準8通道的阻抗 (Z)。

您可以將每台器械的通道數增加到64個(ge) ，增量為(wei) 8個(ge) 通道。

⑤ 測量電纜

由聚四氟乙烯製成的同軸電纜連接到樣品或試驗係統內(nei) 部夾具。

⑥ 繼電器單元

該裝置將測量電纜連接到樣本上或測試係統內(nei) 部夾具至掃描儀(yi) 裝置。繼電器單元使連接變得容易。

⑦ 樣品連接夾具（可選）

用於(yu) 連接 SMD 組件或離散設備的卡扣式夾具。

⑧ LCR儀(yi) 表

該儀(yi) 表測量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測試儀(yi) （選配）

該測試人員測量絕緣電阻。您可以將每台器械的通道數增加到64個(ge) ，增量為(wei) 8個(ge) 通道。

⑩RS-485（可選）

從(cong) 環境測試係統選項菜單，RS-485可將通信選作係統控製器和環境測試係統的通信協議。

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