華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀

華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀(yi)

華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀(yi) 產(chan) 品介紹

高溫鐵電測試儀(yi) 用於(yu) 鐵電體(ti) 的鐵電性能測量，可用於(yu) 鐵電體(ti) 的科學研究及近代物理實驗中的固體(ti) 物理實驗以及工業(ye) 化生產(chan) 鐵電存儲(chu) 器的鐵電性能檢測中。本測試係統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試係統采用虛地模式測量電路，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，並且能實現較高的測量準確度，它不僅(jin) 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。。儀(yi) 器采用一體(ti) 化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

鐵電材料參數測試儀(yi) 主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈衝(chong) 和雙極性雙脈衝(chong) 發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性測量電路構成。適用於(yu) 鐵電薄膜、鐵電體(ti) 材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性，可準確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體(ti) 材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為(wei) 一台通用信號發生器、高壓信號發生器使用。

華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀(yi) 產(chan) 品特點

l  電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩餘(yu) 極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數

l  鐵電疲勞性能測量

l  鐵電保持性能測量

l  電阻測量

l  漏電流測量

l  高精度三維移動平台