華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀/電滯回線

華測變溫鐵電測試盒/鐵電分析儀(yi) /電滯回線

高溫測量鐵電參數測試儀(yi)

華測高溫測量鐵電參數測試儀(yi) 電滯回線產(chan) 品介紹：          

本測試係統采用虛地模式測量電路，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和，並且能實現較高的測量，它不僅(jin) 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩餘(yu) 化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀(yi) 器采用一體(ti) 化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

軟件功能：                                  

HC5000係列測試係統的軟件平台hacepro,采用labview係統開發，符合導體(ti) 、半導體(ti) 材料的各項測試需求，具備穩定性與(yu) 性，並具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢複。兼容，XP、win7、win10係統。

友善的使用界麵

多語界麵：支持中文/英文 兩(liang) 種語言界麵；

即時監控：係統測試狀態即時瀏覽，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，一目了然，立即對狀態說明，了解測試狀態；

使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；

故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。

優(you) 點：                                                  

可測量壓電陶瓷居裏溫度、靜態壓電常數；

測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數及介質損耗測試；

可測量壓電材料積分電荷法熱釋電係數測試

它可測量壓電陶瓷的因數及機電耦合係數

可選配不同的測試裝置進行不同環境下的壓電陶瓷參數測試        

本儀(yi) 器可配合高壓放大器實現壓電及鐵電材料的綜合測

壓電常數測試原理：                                          

熱釋電係數測試原理：