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麵對電子產(chan) 品越來越小型輕量及高密度封裝,華測絕緣電阻劣化(離子遷移)評估係統配之以高溫高濕試驗箱聯動,適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
測試步驟:
一、從(cong) 整盤線纜中截取樣品線10m(不小於(yu) 10m,測量誤差應不超過1%),然後打彎兩(liang) 端剝開100mm放在水浴中,留在水外麵的兩(liang) 端長度應不小於(yu) 250mm。
二、接上電源,打開設備。接上設備的兩(liang) 根測試線,一根為(wei) 紅色的高壓端接線纜線芯的導體(ti) 上作為(wei) 測試的一極,另一根黑色的低端測試線接上一個(ge) 導體(ti) 放在水中作為(wei) 測試的另一極。
三、根據試驗要求調節電壓檔旋鈕選擇需要的電壓。然後開始調節電阻檔旋鈕,在調節的過程中一邊調節一邊注意數碼管顯示的數值直到數值發生變化,停止調節電阻檔旋鈕,此時調節定時器為(wei) 60s,然後啟動定時器並把測試旋鈕調到測試位置。此時就開始測試了,定時60s結束後儀(yi) 器會(hui) 自動結束測試,此時數碼管顯示的數值乘以電阻檔的調節旋鈕對應的數值就是所取樣品線的絕緣電阻值。
四、測試完畢後,應把測試旋鈕調到放電狀態,等1minutes中後取下樣品和測試線。
五、完成測試。
絕緣電阻劣化離子遷移評估係統/電路板測試
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