耐漏電起痕試驗儀的基本簡介

                         耐漏電起痕試驗儀(yi) 的基本簡介

耐漏電起痕試驗儀(yi) 是根據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體(ti) 絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標準規定的模擬試驗項目。
   HCDH-200耐漏電起痕試驗儀(yi) 是在固體(ti) 絕緣材料表麵上，在規定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓並定時(30s)定高度( 35mm )滴下規定液滴體(ti) 積的汙染液體(ti) (0.1%NH 4 CL)，用以評價(jia) 固體(ti) 絕緣材料表麵在電場和汙染介質聯合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(CT1)和耐電痕化指數(PT1)。
    HCDH-200漏電起痕試驗儀(yi) 適用於(yu) 照明設備、低壓電器、家用電器、機床電器、電機、電動工具、電子儀(yi) 器、電工儀(yi) 表、信息技術設備的研究、生產(chan) 和質檢部門，也適用於(yu) 絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(ye) 。，也適用於(yu) 電氣能力驗證計劃與(yu) 技術研討會(hui) 中的有關(guan) CHEARI-PT003耐電痕化指數測試。