半導體(ti) 封裝材料高溫絕緣電阻測試係統
• 運用原理:三電極法設計原理測量。
• 係統優(you) 勢:重複性與(yu) 穩定性好,提升了夾具的抗幹擾能力,同時大大提高精確度,可應用於(yu) 產(chan) 品檢測以及新材料電學性能研究等。
• 安全設計:在過電壓、過電流、超溫 等異常情況下保證測試過程的安全;具備資料保存機製,當遇到電腦異常或瞬時斷電時,可將資料保存於(yu) 控製器中,設備重新開啟後可恢複原有試驗數據。
• 控製器功能:允許程序重複多達9999次,每個(ge) 程序步驟包括溫度、時間和變化率參數,測試最長可達100小時。
• 溫控方式:采用可實現高精度溫控、高屏蔽幹擾信號的循環熱風加熱方式,具有均勻的溫度分布,可實現寬域均熱區、高速加熱、高速冷卻。
• 技術參數:
• 溫度範圍:-185℃~400℃(多段可選)
• 加熱方式:360°熱風循環
• 控溫精度:±0.5℃
• 升溫斜率:10℃/min(可設定)
• 電阻:1~10^18Ω
• 測試方法:三電極法
• 輸入電壓:220V
• 測試體(ti) 積:10.5升(0.37立方英尺)
• 電極材料:銅
• 夾具輔助材料:高溫雲(yun) 母
• 絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
• 數據傳(chuan) 輸:USB接口/232通訊
• 應用場景:環氧塑封料(EMC)性能評估、封裝結構的可靠性驗證、印刷電路板(PCB)製造、電子元件封裝、航空航天電子設備、發動機控製係統、電動汽車電池管理係統以及新材料研發和基礎科學研究等領域。
總之,半導體(ti) 封裝材料高溫絕緣電阻測試係統是多功能的測試設備。
足球国际杯国际米兰專(zhuan) 業(ye) 研發生產(chan) 半導體(ti) 封裝材料高溫絕緣電阻測試係統,應用在不同場景。
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