電介質充放電測試係統的特點

電介質充放電測試係統的特點

 技術概述

Huace-DCS10KV電介質充放電測試係統主要用於(yu) 研究介電儲(chu) 能材料高電壓放電性能。目前常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度,測試時,樣品的電荷是釋放到高壓源上,而不是釋放到負載上,通過電滯回線測得的儲(chu) 能密度一般會(hui) 大於(yu) 樣品實際釋放的能量密度,無法正確評估電介質材料的正常放電性能。Huace-DCS10KV儲(chu) 能電介質充放電係統采用專(zhuan) 門設計的電容放電電路來測量,首先將介電膜充電到給定電壓,之後通過閉合高速MOS高壓開關(guan) ,存儲(chu) 在電容器膜中的能量被放電到電阻器負載的原理設計開發,更符合電介質充放電原理。

在實際應用中,當電介質或電容器充電後,存儲(chu) 的能量被放電到外部負載,放電過程由負載、電工互連和電容器組成的整個(ge) 電路決(jue) 定,有時甚至電纜的長度變化也會(hui) 強烈的影響放電過程、電壓和電流波形。因此P-E回滯測量的放電條件與(yu) 實際實用中的放電條件明顯不同,並且在實際應用中從(cong) P-E回滯環獲得的能量密度可能偏離(通常高於(yu) )真實的放電能量密度。                

為(wei) 了評估介電材料在類似於(yu) 現實應用的放電條件下的性能,另一種測試方式用於(yu) 測量介電材料的儲(chu) 能特性。在測量過程中,首先將介電材料充電到給定的電壓,然後,將電容器中的存儲(chu) 的能量放電到外部負載,經測試的介電材料可以建模為(wei) 理想的無損耗電容,與(yu) 電阻{等效串聯電阻(ESR)}串聯,代表介質材料的損耗。很容易看出,當外部負載電阻RL》ESR時,大部分儲(chu) 存的能量將通過ESR(電介質材料tan8、電極和連接電纜的電阻等)消散,並且來自RL測量的能量密度將遠遠小於(yu) 存儲(chu) 的能量密度(快速放電)。因此,如果RL》ESR,介質電容器的放電效率將取決(jue) 於(yu) 負載條件,並且可以非常高。RL的選取影響著測試的放電速度。較大的RL意味著較大的RLC常數(C是材料的電容)較慢的放電速度。在測試中,盡管可以固定RL,但是介電材料的電容是可能不是恒定的,因為(wei) 材料介電性能具有場致依賴性。無論怎樣,總是可以使用負載電阻和弱場電容來估算放電速度,並選擇負載電阻進行測試。

產(chan) 品特點

1、擴展性強

可外接高壓放大器或高壓直流電源;

2、適用多種樣品測試

定製載樣平台,可適用於(yu) 陶瓷和薄膜樣品測試;

3、可作為(wei) 信號源

可以作為(wei) 一個(ge) 信號源,產(chan) 生任意波形;

4、疲勞測試

可以進行疲勞測試;

5、寄生電容小，動作時間短

本係統采用特殊高壓開關(guan) ，通過單刀雙擲控製充電和放電過程，開關(guan) 可以承受10kV高壓,寄生電容小,動作時間短;

7、放電電流高

通過電流探頭檢測放電電流，可達100A;

8、數據采集

通過示波器采集數據,並能直接計算儲(chu) 能密度;

9、變溫測試

可以進行變溫測試，RT~250°C;

10、可用作極化材料

可用於(yu) 極化材料之用;

11、兩(liang) 種測試模式

實現欠阻尼和過阻尼兩(liang) 種測試模式，欠阻尼測試時,放電回路短路，不使用電阻負載,過阻尼測試時,使用較大的高精度無感電阻作為(wei) 放電負載;

12、電流電壓

電壓10kv,電流5mA