固體(ti) 電介質電擊穿的理論是以在介質中發生碰撞電離為(wei) 基礎的。它不包括由邊緣效應、介質劣化等因素引起的擊穿。
固體(ti) 電介質的中間存在少量處於(yu) 導電能量狀態的電子(傳(chuan) 導電子)。它在電場加速下將與(yu) 晶格點上的原子碰撞,但因固體(ti) 介質中的原子相互聯係十分緊密,所以必須考慮傳(chuan) 導電子與(yu) 晶格碰撞。
由碰撞電離引起擊穿有下述兩(liang) 種解釋:固體(ti) 擊穿理論是考慮單位時間傳(chuan) 導電子從(cong) 電場中獲得的能量與(yu) 單位時間內(nei) 由於(yu) 碰撞而失去的能量之間,因不平衡而引起擊穿;另一種擊穿理論則認為(wei) :傳(chuan) 導電子由電場作用得到了可使晶格原子電離的能量,產(chan) 生了電子崩,當電子崩發展到足夠強時,引起固體(ti) 電介質擊穿。
電壓擊穿的特點:電壓作用時間短,擊穿電壓高,電介質溫度不高;擊穿場強與(yu) 電場均勻程度有密切關(guan) 係,而與(yu) 周圍環境溫度的高低幾乎無關(guan) 。
電壓擊穿試驗儀(yi) 主要適用於(yu) 固體(ti) 絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維製品、雲(yun) 母及其製品、塑料、薄膜複合製品、陶瓷和玻璃等介質在工頻電壓或直流電壓下擊穿強度和耐電壓時間的測試。
華測電壓擊穿試驗儀(yi) 采用計算機控製,可對試驗過程中的各種數據進行快速、采集、處理,並可存取、顯示、打印。
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