影響電壓擊穿測試儀測試的因素有哪些?

電壓擊穿測試儀(yi) 主要適用於(yu) 固體(ti) 絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、雲(yun) 母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質在工頻電壓或直流電壓下擊穿強度和耐電壓時間的測試。

電壓擊穿測試的影響因素：電壓波形及電壓作用時間影響。

材料在電場作用下，初始時單位時間內(nei) 材料內(nei) 部產(chan) 生的熱量大於(yu) 介質散發出去的熱量，進而介質溫度升高,溫度的升高是一個(ge) 由快轉慢的，若升壓速度較慢後發生材料擊穿熱擊穿的成分較大。

作用時間的影響多因熱量積累而使擊穿電壓值隨電壓作用時間增加而下降，處於(yu) 熱擊穿形式的試樣，基本上隨升壓速度的提高擊穿強度也增大。熱擊穿形式的試樣，基本上隨升壓速度的提高擊穿強度也增大。電極倒角的影響：電極邊緣處電場強度遠遠高於(yu) 內(nei) 部,但邊緣效應極難消除。濕度影響：因水分浸入材料而導致其電阻降低，必然降低擊穿電壓值。

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