HCTZ-2S型數字式四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀(yi) 器按照單晶矽物理測試方法標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專(zhuan) 用於(yu) 測試半導體(ti) 材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專(zhuan) 用儀(yi) 器。
儀(yi) 器由主機、探針測試台、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由四探針測試儀(yi) 主機直接顯示,亦可與(yu) 計算機相連接通過四探針軟件測試係統控製四探針測試儀(yi) 進行測量並采集測試數據,把采集到的數據在計算機中加以分析,然後把測試數據以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日後參考和查看,還可以把采集到的數據輸出到Excel中,讓用戶對數據進行各種數據分析。
儀(yi) 器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量範圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
設備保養(yang) :
經常保持設備和計算機的清潔、衛生。
預防高溫、過濕、灰塵、腐蝕性介質、水等浸入機器或計算機內(nei) 部。
定期檢查,保持零件、部件的完整性。
注意事項:
1、儀(yi) 器操作前請您仔細閱讀使用說明書(shu) ,規範操作
2、輕拿輕放,避免儀(yi) 器震動,水平放置,垂直測量
3、儀(yi) 器不使用時請切斷電源,連接線無需經常拔下,避免灰塵進入航空插引起短接等現象
4、探針筆測試結束,套好護套,避免人為(wei) 斷針
本儀(yi) 器適用於(yu) 半導體(ti) 材料廠、半導體(ti) 器件廠、科研單位、高等院校對半導體(ti) 材料的電阻測試。
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