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高溫鐵電測試儀的係統優勢及應用領域一覽

更新時間:2021-03-19      點擊次數:1153

   高溫鐵電測試儀(yi) 可以測量鐵電材料的電滯回線,飽和極化Ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guan) 特性等的測試,。目前該係統測量溫度800°C,可配置薄膜和塊體(ti) 測量夾具,可廣泛應用於(yu) 薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chu) 器等領域的研究。

  高溫鐵電測試儀測試係統采用虛地模式測量電路,與傳統的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決於積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環節,比較容易定標和,並且能實現較高的測量準確度,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩餘極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數,以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。。儀器采用一體化設計,實現測試結果全數字化,操作簡單方便。
  高溫鐵電測試儀應用領域
  1.鐵電材料的電滯回線(動態與靜態)、漏電流等特性。
  2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。
  3.超晶格材料在方波脈衝電壓激勵下的自漏電特性。
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