高溫介電溫譜儀的介紹

     高溫介電測量係統用於(yu) 分析寬頻、高溫條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線，是專(zhuan) 業(ye) 從(cong) 事材料介電、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電常數和介電損耗、阻抗譜、磁導率、機電耦合係數等隨溫度、時間、頻率、偏壓變化的曲線，HGJW-800高溫介電測量係統是功能陶瓷器件實驗室*電學評估設備。

     HGJW-800係統搭配Labview係統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行頻率、溫度、時間、測試項等設置，符合絕緣材料測試多樣化的需求。

   本高頻介電溫譜係統主要用於(yu) 絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試，係統包含高溫爐膛，阻抗分析儀(yi) ，微電流表，夾具，測試軟件於(yu) 一體(ti) ，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合係數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。

     公司開發的高溫阻抗、介電測量係統軟件將高溫測試平台、高溫測試夾具可與(yu) 安捷倫(lun) （是德科技）、穩科、同惠等廠家的LCR測量設備無縫連接實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與(yu) 分析。另外，還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定製需求。軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐(feng) 富多樣。