高溫四探針測試儀

  高溫四探針測試儀(yi)

  高溫四探針測試儀(yi) 器采用四探針雙電測量方法，適用於(yu) 生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀(yi) 器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能。采用AD芯片控製，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀(yi) 器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度係數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。

  雙電測數字式四探針測試儀(yi) 是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀(yi) 器設計符合單晶矽物理測試方法標準並參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩(liang) 次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響，它與(yu) 單電測直線或方形四探針相比，大大提，也可應用於(yu) 產(chan) 品檢測以及新材料電學研究等用途。

  係統搭配Labview係統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義(yi) 功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體(ti) 、半導體(ti) 材料與(yu) 其它新材料測試多樣化的需求。