介電常數及介質損耗測試儀產品介紹及設備優勢

介電常數及介質損耗測試儀(yi) 產(chan) 品介紹及設備優(you) 勢

一、產(chan) 品介紹

絕緣材料高頻介質損耗測試係統由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊）、及LKI-1型電感器組成。它依據GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會(hui) IEC60250的規定設計製作。

係統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的較好解決(jue) 方案。本儀(yi) 器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為(wei) 指示儀(yi) 器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數字Q表具有自動計算介電常數（ε)和介質損耗

(tanδ)。

二、設備優(you) 勢

1. DDS數字直接合成的信號源，確保信源的高葆真、幅度的高穩定。頻率到0.1Hz,確保高Q值時測量的度遠超DPLL信號源。Q分辨率至0.1Q，tanδ分辨率至0.00001。

2. 雙掃描技術-測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

3. 雙數碼化調諧-數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

4自動化測量技術-對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5計算機自動修正技術和測試回路優(you) 化一使測試回路殘餘(yu) 電感減至低，*Q讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

6. 能對固體(ti) 絕緣材料在100kHz〜100MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

7. 大屏幕菜單式顯示多參數：介電常數(ε),介質損耗角(tanδ),Q值，測試頻率，調諧狀態和調諧電容值等。

8. DSS數字合成信號發生10kHz〜70MHz(QBG-3E),10kHz〜110MHz(QBG-3F),50kHz〜 160MHz(AS2853A)測試信號。獨立信號源輸出口，所以本機又是一台合成信號源。

9. Q值量程自動/手動量程控製。