對於電壓擊穿試驗儀的選擇不得不了解的幾個問題？

對於(yu) 電壓擊穿試驗儀(yi) 的選擇不得不了解的幾個(ge) 問題？

做一個(ge) 產(chan) 品不難，難在做精一個(ge) 產(chan) 品，生產(chan) 電試驗儀(yi) 的產(chan) 品的廠家不在少數。各有千秋？PLC控製的，ARM控製的。手動控製的等。對於(yu) 電壓擊穿試驗儀(yi) 的選擇不得不了解的以下幾個(ge) 問題？

一、 電壓擊穿試驗儀(yi) 在電磁幹擾下如何保證長期穩定的工作；目前的電子元器件在長期的電磁幹擾情況下，其必然受到影響。如何處理；

二、無論是PLC還是電路板控製，又將如何處理其輸入控製高壓的之間的保護；因電路板或PLC晶體(ti) 管輸入都大約在24V以下工作。雖然說有光耦等其保護，但其高壓反饋及高壓電磁幹擾下，顯得及其力不從(cong) 心；

三、如何又保證，高壓放電等情況下的通訊正常及其保護；

四、電網電源的雜波幹擾及電網汙染的情況下，電子控製係統的穩定性可想而知；在一種控製係統在供電不穩的情況下，又將如何工作

五、材料擊穿瞬間的放電過程，同時夾雜著幹擾勢必影響采集電穿的過程，又將如何保證擊穿瞬間電壓的真值。

六、、無論是失壓、門等一係的保護下。在控製單元萬(wan) 一失效的情況下，又將如何保證。