絕緣電阻測試儀常見故障及解決方法

                絕緣電阻測試儀(yi) 常見故障及解決(jue) 方法

1.在絕緣電阻測試儀(yi) 測容性負載阻值時，絕緣電阻測試儀(yi) 輸出短路電流大小與(yu) 測量數據有什麽(me) 關(guan) 係，為(wei) 什麽(me) ?
絕緣電阻測試儀(yi) 輸出短路電流的大小可 反映出該兆歐表內(nei) 部輸出高壓源內(nei) 阻的大小。當被測試品存在電容量時，在測試過程的開始階段，絕緣電阻測試儀(yi) 內(nei) 的高壓源要通過其內(nei) 阻向該電容充電，並逐步將 電壓充到絕緣電阻測試儀(yi) 的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nei) 阻很大，這一充電過程的耗時就會(hui) 加長。其長度可由R內(nei) 和C負載的乘積 決(jue) 定(單位為(wei) 秒)。請注意，給電容充電的電流與(yu) 被測試品絕緣電阻上流過的電流，在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀(yi) 內(nei) 的。絕緣電阻測試儀(yi) 測得的電流不僅(jin) 有絕 緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時測得的阻值將偏小。
如：試品容量為(wei) 0.15μF，則時間常數τ=62MΩ×0.15μF≈9(秒)即在18秒時刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見，僅(jin) 由充電電流而形成的等效電阻為(wei) 5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為(wei) 1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅(jin) 為(wei) 306MΩ。這種 試值已不能反映絕緣值的真實狀況了，而且試值主要是隨容性負載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。
所以，為(wei) 保障準確測得R15s，R60s的試值，應選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀(yi) 。我國的相關(guan) 規程要求絕緣電阻測試儀(yi) 輸出短路電流應大於(yu) 0.5mA、1mA、2mA、5mA，要求高的場合應盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀(yi) 。

2.為(wei) 什麽(me) 測絕緣時，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，極化指數，有什麽(me) 意義(yi) ？
在絕緣測試中，某一個(ge) 時刻的絕緣電阻值是不能反映試品絕緣的優(you) 劣的，這是由於(yu) 以下兩(liang) 方麵原因，一方麵，同樣的絕緣材料，體(ti) 積大時呈現的絕緣 電阻小，體(ti) 積小時呈現的絕緣電阻大。另一方麵，絕緣材料在加上高壓後均存在對電荷的吸收比過程和極化過程。所以，電力係統要求在主變壓器、電纜、電機等許 多場合的絕緣測試中應測量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數-即R10min和R1min比值，並以此數據來判定絕緣狀況的優(you) 劣。

3．在絕緣電阻測試儀(yi) 高壓高阻的測試環境中，為(wei) 什麽(me) 要求儀(yi) 表接"G"端連線？
在被測試品兩(liang) 端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時，被測試品表麵受潮濕，汙染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀(yi) 表"G"端是將被測試品表麵泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經過儀(yi) 表的測試回路，消除泄漏電流引起的誤差。